EMI辐射测量的方法

     EMI电磁干扰是一个令很多设计者头疼的问题，即便效率达到要求，如果EMI不达标也是算不上一个合格的产品的，在之前的文章中。深圳电源IC供应商将开始讲解用哪些工具发现EMI辐射。

 

     当设计者从EMI的角度看任何一款产品时，整个设计可以被看作是能量源和天线的一个集合。EMI问题的常见（但绝不是唯一）源包括：

 

     1、电源滤波器；

 

     2、地阻抗；

 

     3、没有足够的信号返回；

 

     4、LCD辐射；

 

     5、元件寄生参数；

 

     6、电缆屏蔽不良；

 

     7、开关电源（DC/DC转换器）；

 

     8、内部耦合问题；

 

     9、金属外壳中的静电放电；

 

    10、不连续的返回路径；

 

    为了确定一块特定电路板上的能量源以及位于特定EMI问题中心的天线，需要检查被观察信号的周期。信号的射频频率是多少？是脉冲式的还是连续的？这些信号特征可以使用基本的频谱分析仪进行监视。

 

    如果需要查看巧合性。待测设备（DUT）上的哪个信号与EMI事件是同时发生的？一般常见的做法是用示波器探测DUT上的电气信号。检查EMI问题与电气事件的巧合性无疑是EMI排查中最耗时间的工作。将来自频谱分析仪和示波器的信息以同步方式关联在一起一直是很难做的一件事。

 

    然而，混合域示波器（MDO）的推出使情况有了改观，它能提供同步的而且与时间相关联的观察和测量功能。这种仪器能够相当容易地观察哪个信号与哪个EMI事件同时发生，从而可以简化EMI排查过程。

 

    混合域示波器（MDO）将频谱分析仪、示波器和逻辑分析仪组合在一台仪表内，可以从全部三台仪器中产生同步的而且与时间关联的测量结果。

 

    MDO将混合信号示波器的功能和频谱分析仪的功能整合在一起。借助这种组合，能够自动显示模拟信号特征、数字时序、总线事务以及射频并在这些信息基础上实现触发。一些MDO还能捕获或观察频谱和时域轨迹，包括射频幅度对时间、射频相位对时间以及射频频率对时间的关系曲线。

 

    显示了MDO提供的时间关联观察功能，射频幅度与时间的关系轨迹。

 

    从以上的内容中可以看到，对EMI电磁干扰的排查方法不止一种。随着技术的发展，检测的方法虽然越来越复杂化，但依托于发展的技术，其并没有影响到设计者的使用。